Kotak Sinar-X

Diketahui bahwa difraksi sinar-X digunakan untuk mempelajari struktur kristal senyawa dan bahan. Salah satu elemen kunci dalam eksperimen difraksi sinar-X adalah kisi sinar-X.

Kisi sinar-X adalah alat yang digunakan untuk memantulkan dan mendifraksi sinar-X. Ini adalah pelat datar dengan deretan strip sempit paralel di atasnya. Jarak antara garis-garis pada kisi berada pada urutan beberapa puluh nanometer.

Ketika sinar X-ray mengenai kisi-kisi sinar-X, ia melewati garis-garis tersebut dan dipantulkan darinya pada sudut yang ditentukan oleh hukum Bragg. Hasilnya adalah pola difraksi yang dapat digunakan untuk menentukan struktur kristal suatu material.

Namun untuk memperoleh pola difraksi yang berkualitas, perlu digunakan kisi-kisi sinar-X yang mampu menyaring sinar-X yang tidak memenuhi syarat tertentu. Jenis kisi sinar-X ini disebut penyaringan.

Kisi penyaringan merupakan bagian integral dari eksperimen difraksi sinar-X dan memungkinkan diperolehnya pola difraksi berkualitas tinggi. Ini terdiri dari beberapa lapisan, yang masing-masing menyaring sinar-X dengan panjang gelombang tertentu. Dengan demikian, berkas sinar-X monokromatik terbentuk di pintu keluar kisi penyaringan, yang merupakan kondisi yang diperlukan untuk memperoleh pola difraksi berkualitas tinggi.

Kesimpulannya, kisi-kisi sinar-X merupakan elemen penting dalam eksperimen difraksi sinar-X, dan kisi-kisi penyaringan memainkan peran yang sangat penting dalam memperoleh pola difraksi yang baik. Mereka memungkinkan untuk mempelajari struktur kristal senyawa dan bahan, yang sangat penting dalam berbagai bidang ilmu pengetahuan dan teknologi.