Hình học trường chiếu xạ

Trường bức xạ hình học là trường bức xạ được xác định bởi ranh giới hình học quy ước của chùm bức xạ.

Trường bức xạ hình học dùng để mô tả sự phân bố bức xạ trong không gian và được xác định dựa trên đặc điểm hình học của nguồn bức xạ. Nó phụ thuộc vào kích thước và hình dạng của chùm tia, khoảng cách từ nguồn và góc phân kỳ của bức xạ.

Ranh giới của trường chiếu xạ hình học thường được vẽ ở mức mà mật độ thông lượng bức xạ giảm xuống một giá trị nhất định (ví dụ: đến 50% mức tối đa). Trong ranh giới này, bức xạ được coi là phân bố đồng đều.

Do đó, trường bức xạ hình học đưa ra một bức tranh gần đúng, đơn giản về sự phân bố bức xạ và được sử dụng để ước tính và tính toán cơ bản trong vật lý bức xạ. Một phân tích chính xác hơn đòi hỏi phải xem xét trường bức xạ vật lý thực tế, có tính đến tất cả các sắc thái của sự phân bố không gian.

Trường chiếu xạ là vùng không gian trong đó xảy ra hoặc có thể xảy ra sự tương tác của bức xạ ion hóa với vật chất. Nó xác định mật độ không gian của dòng hạt, các điều kiện xảy ra phản ứng sơ cấp và môi trường hóa học của nó, cũng như các điều kiện cho sự di chuyển tiếp theo của các hạt. Diện tích tương tác bức xạ rất quan trọng đối với việc thiết kế lắp đặt công nghệ hạt nhân, để đánh giá và phân tích kết quả nghiên cứu thực nghiệm.

Khái niệm trường chiếu xạ gắn liền với kính hiển vi ánh sáng hoặc tia X, máy ảnh để truyền và ghi tín hiệu, máy quang phổ và bộ lọc. Thường