Chụp cắt lớp tia X

Chụp cắt lớp tia X là một phương pháp nghiên cứu chẩn đoán trong đó hình ảnh tia X được chuyển đổi từ hai chiều sang màn hình bằng cách thu thập một loạt ảnh X quang thể tích riêng lẻ (CT) bằng máy dò quét. Do đó, hình ảnh nhận được khối lượng và hình dạng ba chiều, nhưng trên một mặt phẳng. Hình ảnh này cho phép chúng ta nghiên cứu giải phẫu và bệnh tật theo cách ba chiều, bổ sung cho phương pháp chụp X-quang hai chiều (2D) truyền thống được gọi là chụp cắt lớp vi tính bằng tia X thông thường, hay gọi tắt là CT. Kết quả của nghiên cứu này là hình ảnh từng lớp, có độ phân giải cao của các vật thể giải phẫu được định vị theo thời gian.