Nhiễu xạ tia X

Phép đo X quang là phương pháp nghiên cứu dựa trên việc đo lường và phân tích hình ảnh tia X (X-quang).

Bản chất của phương pháp là thu được hình ảnh tia X của đối tượng đang nghiên cứu, đo tiếp theo các thông số khác nhau trong những hình ảnh này và giải thích dữ liệu thu được.

Nhiễu xạ tia X được sử dụng rộng rãi trong y học để chẩn đoán bệnh và theo dõi tình trạng bệnh nhân, trong công nghiệp để kiểm soát chất lượng sản phẩm và trong nghiên cứu khoa học để nghiên cứu cấu trúc bên trong của vật thể.

Các thông số chính được xác định bằng nhiễu xạ tia X là kích thước tuyến tính và góc cạnh của cấu trúc giải phẫu, mật độ và mật độ quang học của các mô.

Để thực hiện các phép đo, người ta sử dụng thiết bị X-quang đặc biệt và các chương trình máy tính để xử lý hình ảnh X-quang.

Do đó, nhiễu xạ tia X là một phương pháp quan trọng để đánh giá định lượng hình ảnh tia X, được sử dụng rộng rãi trong nhiều lĩnh vực khoa học và thực tiễn.

Đo bức xạ là phương pháp đo các đặc tính của vật thể dựa trên việc sử dụng tia X. Phương pháp này cho phép bạn có được thông tin về hình dạng, kích thước và cấu trúc của đối tượng, cũng như xác định sự hiện diện của các khuyết tật hoặc những thay đổi trong cấu trúc của nó. Các phép đo tia X được sử dụng rộng rãi trong nhiều lĩnh vực khoa học và công nghệ, bao gồm y học, địa chất, khảo cổ học,