X線ラスター

X 線ラスターは、X 線フィルムのデジタル写真のラスター処理プロセスです。 X 線ラスターは結晶学や材料科学で広く使用されています。この方法により、結晶内部の微細構造を可視化し、結晶格子のパラメータを決定することができます。 X 線ラスターは、20 世紀初頭にロシアの数学者で物理学者のグリゴリー・ラザレビッチ・ランダウによって初めて使用されました。

X 線ラスターの主なタスクは、物体の微細構造の画像を取得することです。スペクトルの X 線領域では、太陽光線が薄膜に入り、構造をさらに視覚化するために特別なプレートに当てられます。この技術は、X 線が薄い物質を通過し、さまざまな角度で反射できるという事実に基づいています。これらの反射を測定することにより、研究者は検査対象の材料の構造を決定できます。

X 線ラスターには、Lambert ラスターや Bracket ラスターなど、いくつかのタイプがあります。 Lambert ラスターは、異なる波長の光線をフィルターし、その投影であるいくつかの画像を作成する等距離光フィルターで構成されています。次に、投影データが結合されて最終画像が生成されます。 Bracket ラスターは Lamberg ラスターに似ていますが、発散する放射状の線上に配置された小さなフィルターを備えています。両方のラスターの利点の 1 つは、金属内の細孔などのより小さいサイズのフィーチャを視覚化できることです。各ラスターには、研究の特定のニーズに応じて、独自の長所と短所があります。

X 線ラスターは、結晶、材料、有機化合物、生体分子などの特性を研究するために広く使用されています。この手法を利用することで、化学的・物理的な分析を行ったり、物体の構造を解析したり、元素を原子レベルで制御したりすることができます。研究中に得られた結晶構造の記録をデジタル形式で保存するには、X線スキャナーとデータ処理ソフトウェアが使用されます。これらの技術により、複雑な構造を可視化し、その特性を内部から観察することが可能になります。

X 線ラスターの主な利点: 1. 精度: X 線画像の処理により高精度の結果が得られ、高いコストは必要ありません。