비네-사이먼 테스트

**Binet-Simon 테스트**는 19세기 말 프랑스 심리학자 Alfred Binet과 스위스 동료 Theodore Simon이 어린이의 지적 발달을 평가하기 위해 개발한 일련의 기술입니다. 테스트는 아동의 행동을 관찰하고 질문에 대한 답변을 분석하는 데 기반을 두고 있습니다.

Binet-Semon 테스트의 주요 장점은 정신 발달 수준을 결정하는 데 도움이 될 뿐만 아니라 어린이의 사고 특성을 식별하는 데 도움이 된다는 것입니다. 또한 Binet-Simon 테스트는 다양한 어린이나 연령대의 정신 발달을 비교하는 데 자주 사용됩니다.

Binet-sema 테스트에는 아동의 연령과 발달 수준에 따라 여러 버전이 있습니다. 예를 들어, 2~7세 어린이를 대상으로 하는 테스트(1차 또는 2차 테스트)와 8세 이상의 노인을 대상으로 하는 테스트(3차, 4차, 5차 테스트)가 있습니다. 연령별 '하위 시험'도 있습니다(예: '언어 이해력', '수학 시험' 등).

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