Fotometrie Vlam

Vlamfotometrie is een methode voor het meten van de helderheid van stoffen, gebaseerd op het meten van de straling die wordt uitgezonden als gevolg van de vurige oxidatie of reductie van een stof. Deze methode wordt gebruikt om de intensiteit van emissie of absorptie in het zichtbare, ultraviolette of infrarode spectrum te meten.

Deze methode is gebaseerd op de Stefan-Boltzmann-vergelijking, die stelt dat elk oppervlak dat warmte uitstraalt, licht uitzendt dat evenredig is aan de vierde macht van zijn temperatuur. Als een stof bij hoge temperaturen chemisch wordt ontbonden, zal deze enorme hoeveelheden licht uitzenden. Door deze straling te meten, is het mogelijk om de hoeveelheid warmte te bepalen die door dit element wordt gegenereerd. Deze meting kan worden gebruikt om de plasmadichtheid, componentconcentraties, temperatuur en andere kenmerken te bepalen.

Om de intensiteit van de straling veroorzaakt door thermische ontleding te meten, wordt een mengsel van gassen in een vlamkamer gebracht, een speciale buis die is bevestigd aan een stralingsdetector. In deze kamer vindt vurige oxidatie of reductie van de stof plaats, wat een uitbarsting van straling veroorzaakt. Een detector wordt vervolgens gebruikt om deze burst te meten.

Vlamkamers bevatten meestal speciale additieven, zoals natrium of kalium, die aan de kamerlucht worden toegevoegd om de helderheid van het proces te vergroten. Er zijn veel verschillende soorten vlamkamers, elk ontworpen voor verschillende soorten metingen. Verschillende soorten kamers kunnen worden gebruikt voor verschillende soorten elementen, waaronder metalen, zuren, gassen en zelfs water. Door het nemen van de juiste voorzorgsmaatregelen kunnen nauwkeurige metingen vaak met hoge nauwkeurigheid worden uitgevoerd.

De voordelen van vlamfotometrie zijn onder meer de hoge nauwkeurigheid en herhaalbaarheid van de resultaten, en de mogelijkheid om te worden gebruikt over een breed temperatuurbereik, stralingsniveaus en concentraties. Het kan ook worden gebruikt om de eigenschappen van verschillende materialen zoals metalen en halfgeleiders te meten.